浙江双视卡片式测温热像仪：接触器主触头氧化发热诊断
测温范围-20~550℃ | 支持非均匀性校正 | 0.1m近距
交流接触器频繁分合后主触头氧化导致接触电阻增大，发热严重。本产品磁吸安装于接触器侧方支架，0.1m近距聚焦触头区域。非均匀性校正技术确保在电磁干扰环境下图像清晰。热成像实时监测每相触头温度，发现三相温差超过阈值时自动报警，指导运维人员提前更换触头，避免接触器粘连引发短路。
测温范围-20~550℃ | 支持非均匀性校正 | 0.1m近距
交流接触器频繁分合后主触头氧化导致接触电阻增大，发热严重。本产品磁吸安装于接触器侧方支架，0.1m近距聚焦触头区域。非均匀性校正技术确保在电磁干扰环境下图像清晰。热成像实时监测每相触头温度，发现三相温差超过阈值时自动报警，指导运维人员提前更换触头，避免接触器粘连引发短路。
